技術(shù)發(fā)展迅速 精密測(cè)量發(fā)展方向透視

1、測(cè)量精度由微米級(jí)向納米級(jí)發(fā)展，測(cè)量分辨力進(jìn)一步提高；

2、由點(diǎn)測(cè)量向面測(cè)量過渡（即由長(zhǎng)度的精密測(cè)量擴(kuò)展至形狀的精密測(cè)量），提高整體測(cè)量精度；

3、隨著圖像處理等新技術(shù)的應(yīng)用，遙感技術(shù)在精密測(cè)量工程中將得到推廣和普及；

4、隨著標(biāo)準(zhǔn)化體制的確立和測(cè)量不確定度的數(shù)值化，將有效提高測(cè)量的可靠性。

總之，測(cè)量技術(shù)必須實(shí)現(xiàn)高精度化，同時(shí)也要求實(shí)現(xiàn)高速化和高效率化，因此，非接觸測(cè)量和高效率測(cè)量也必然成為新世紀(jì)精密測(cè)量技術(shù)的重要發(fā)展方向。