檢測技術(shù)的發(fā)展歷程

        現(xiàn)代檢測的定義是：在不損壞試件的前提下，以物理或化學(xué)方法為手段，借助技術(shù)和設(shè)備器材，對試件的及表面的結(jié)構(gòu)，性質(zhì)，狀態(tài)進行檢查和測試的方法。

        主要的檢測方法有五種：超聲波檢測UT(Ultrasonic Testing)、射線檢測RT(RadiographicTesting)、磁粉檢測MT(Magnetic Particle Testing)、滲透檢測PT(Penetrant Testing)和目視檢查VT(Visual Testing)

        檢測經(jīng)歷了三個發(fā)展階段，即探傷(Nondestructive inspection，NDI)、檢測(Nondestructive testing，NDT)和評價(Nondestructive evaluation，NDE)。目前一般統(tǒng)稱為檢測(NDT)，而不是特指上述的第二階段。在這三個階段中，各階段之間也沒有時間分界點，它們之間存在相互繼承和發(fā)展，各自的主要特點如下。

1.探傷(NDI)

        主要應(yīng)用于20世紀(jì)五六十年代，作為檢測的初級階段，其特點是技術(shù)和任務(wù)都較為簡單。在技術(shù)手段上可選擇的并不豐富，主要采用超聲、射線等技術(shù);在任務(wù)上主要是檢測試件是否存在缺陷或者異常，其基本任務(wù)是在不破壞產(chǎn)品的情況下發(fā)現(xiàn)零件或者構(gòu)件中的缺陷，工程需要，其檢測結(jié)論主要分為有缺陷和無缺陷兩類。

2.檢測(NDT)

         隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，特別是生產(chǎn)對檢測技術(shù)的需求不斷提升，僅僅檢測出是否有缺陷顯然不能人們的實際需求。在檢測(NDT)這一發(fā)展階段，不僅僅是探測出試件是否含有缺陷，還包括探測試件的一些其他信息，例如缺陷的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、位置等，并試圖通過檢測掌握更多的信息、對于國際上發(fā)達(dá)的工業(yè)國家，這一階段大致開始于20世紀(jì)70年代末或者80年代初。

3.檢測評價(NDE)

        盡管第二階段的檢測(NDT)技術(shù)已經(jīng)能夠適合大部分工業(yè)生產(chǎn)的需求，但是隨著對材料、構(gòu)件等質(zhì)量要求不斷增加，是針對在役設(shè)備的安全性和經(jīng)濟性的需求越加重要，檢測進入了第三階段，即評價階段(NDE)。

        這一階段的一個標(biāo)志性事件是1996年在新德里召開的第14界世界檢測大會(Word conference on NDT，WCNDT)，在該次大會上提出了將檢測(NDT)變?yōu)樵u價(NDE)這一重要觀點，并被檢測界所接受。在這一階段，人們不僅要對缺陷的有無、屬性、位置、大小等信息進行掌握，還要進一步評估分析缺陷的這些特性對被檢構(gòu)件的綜合性能指標(biāo)(例如壽命、強度、穩(wěn)定性等)的影響程度，給出關(guān)于綜合性指標(biāo)的某些結(jié)論。目前工業(yè)發(fā)達(dá)國家已經(jīng)處于這一發(fā)展階段。其他國家有些尚以第二階段的技術(shù)為主，有些則已經(jīng)處在第二階段到第三階段的發(fā)展過渡中。